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光學(xué)熱膨脹儀在測量上采用了哪些原理？
更新時間：2020-06-30 點(diǎn)擊次數(shù)：7254
光學(xué)熱膨脹儀是指在一定的溫度程序、負(fù)載力接近于零的情況下，測量樣品的尺寸變化隨溫度或時間的函數(shù)關(guān)系。可測量固體、熔融金屬、粉末、涂料等各類樣品，廣泛應(yīng)用于無機(jī)陶瓷、金屬材料、塑膠聚合物、建筑材料、涂層材料、耐火材料、復(fù)合材料等領(lǐng)域。
測量原理：
光學(xué)熱膨脹儀采用了陰影光的方法。在該方法中，通過測量CCD探測器上樣品的陰影來測量一個方向上樣品的尺寸的大小。 高強(qiáng)度的GaN LED發(fā)出平面光，通過一個擴(kuò)散單元和準(zhǔn)直透鏡，產(chǎn)生高度均勻的、短波平面光。該光的一部分被樣品阻擋。有陰影的光束通過遠(yuǎn)心光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行精細(xì)處理，并由高分辨率的CCD探測器記錄。數(shù)字邊緣檢測自動確定陰影的寬度，進(jìn)而測定樣品的尺寸。
測量的優(yōu)勢：
光學(xué)熱膨脹儀測量本質(zhì)上是一個的測量，不受隨溫度程序變化的系統(tǒng)熱膨脹的影響。 只有樣品經(jīng)歷溫度的變化，光源和檢測器與這些變化相隔離。因此，測量是的，不需要進(jìn)行頂桿式膨脹儀使用中常見的特定測試的校準(zhǔn)。
特點(diǎn)：
1、一次分析中可同時處理2個樣品模子；
2、自動操作，采用圖象技術(shù)分析灰熔點(diǎn)；
3、技術(shù)，可監(jiān)測、電腦計算、儲存數(shù)據(jù)和曲線；
4、可在加氧或減氧壓下進(jìn)行，樣品溫度范圍為200~1550℃；
5、被保存的圖象（間隔5°C）可制成熔融動畫。曲線、熔點(diǎn)、溫度爬坡均被打印和保存；
6、可自動辨別形狀（柱狀、金字塔形增漲、金字塔坍塌、絲狀），計算機(jī)分析相對于初始狀態(tài)的棱角、頂部變化；
7、一旦樣品放入熔爐里，操作者不須動手，直到分析結(jié)束。結(jié)果自動保存在數(shù)據(jù)庫并被打印；您可獲得打印報告、圖片，熔融曲線、數(shù)字熔融過程、分辨率為4℃；
8、該儀器可材料樣品的熱膨脹、熔點(diǎn)測試、灰熔點(diǎn)、熔融特征，儲存樣品的變化圖象（在您感興趣的溫度范圍內(nèi)）；熔融過程的圖象（初始點(diǎn)、收縮點(diǎn)、球狀、半球狀、液化）均被儲存，并被自動打印，可提供寬度、高度、圓度、溫度爬升等信息；
